Oberflächenanalytik

Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)

Mit einer XPS-Analyse kann die chemische Zusammensetzung an der Oberfläche (oberste 5 – 10 nm) von Festkörpern quantitativ bestimmt werden. Zerstörungsfreie Detektion aller Elemente (ausser Wasserstoff und Helium) und Bestimmung der Oxidationszustände der vorhandenen Elemente. Anwendung: Analyse der Sauberkeit resp. Kontaminationen, Flecken, Verfärbungen, Oberflächenmodifikationen, Beschichtungen etc.

Equipment: Kratos Axis NOVA

Ansprechpartner: Roman Heuberger+41 32 644-2022

Lesen Sie mehr über XPS auf unserem Flyer oder über Oberflächenanalytik in unserem Newsletter Nr. 4

Messung des Kontaktwinkels

Die Bestimmung des Kontaktwinkels auf einer Probe erlaubt eine schnelle Charakterisierung der Oberfläche: Ist die Oberfläche hydrophob oder hydrophil? Ist die Probe verunreinigt? War ein Beschichtungsprozess erfolgreich? Anhand von zwei verschiedenen Testflüssigkeiten kann auch die effektive Oberflächenenergie berechnet werden.

Equipment: Surftens universal von OEG GmbH

Ansprechpartner: Roman Heuberger+41 32 644-2022

Lesen Sie mehr zum Thema Kontaktwinkelmessung in unserem Newsletter Nr. 10

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