Oberflächenanalytik

Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)

Röntgenstrahl-Photoelektronenspektroskopie (XPS) zur qualitativen und quantitativen Bestimmung der chemischen Zusammensetzung der Oberfläche (oberste 5 – 10 nm) von metallischen und nichtmetallischen Proben. Zerstörungsfreie Detektion aller Elemente (ausser Wasserstoff und Helium) und Bestimmung der Oxidationszustände der vorhandenen Elemente.

Equipment: Kratos Axis NOVA

Ansprechpartner: Roman Heuberger+41 (0)32 644-2022

Lesen Sie mehr über XPS auf unserem Flyer oder über Oberflächenanalytik in unserem Newsletter Nr. 4

Messung des Kontaktwinkels

Die Bestimmung des Kontaktwinkels auf einer Probe erlaubt eine schnelle Charakterisierung der Oberfläche: Ist die Oberfläche hydrophob oder hydrophil? Ist die Probe verunreinigt? War ein Beschichtungsprozess erfolgreich? Anhand von zwei verschiedenen Testflüssigkeiten kann auch die effektive Oberflächenenergie berechnet werden.

Equipment: Surftens universal von OEG GmbH

Ansprechpartner: Roman Heuberger+41 (0)32 644-2022

Lesen Sie mehr zum Thema Kontaktwinkelmessung in unserem Newsletter Nr. 10

Rauheitsmessung

Konktaktlose Messung der Topographie mittels Interferometrie und Konfokalmikroskopie. Aus der Topographie kann die Rauheit anhand von extrahierten Profilen oder auch die Flächenrauheit bestimmt werden.

Lesen Sie mehr zum Thema Rauheitsmessung in unserem Newsletter Nr. 20

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