Pulver + Partikelanalytik

In der RMS Foundation können wir Ihnen folgenden Dienstleistungen im Bereich Pulver und Partikelanalytik anbieten:

Partikelanalysen (Generell)

Beschreibung:

Bauteile weisen auch nach einer gründlichen Reinigung partikuläre Verunreinigungen auf der Oberfläche auf (unter Belastung werden auch neue Partikel generiert).

Folgen können mechanische als auch biologische Probleme verursachen: Düsen oder Filter verstopfen, Ventile verklemmen oder Lager blockieren. Partikuläre Verunreinigungen auf Implantaten können unerwünschte Immunreaktionen auslösen, die zu einem Versagen des Implantats führen können.

Daher ist es wichtig, die partikulären Verunreinigungen oder die bei Bewegung generierten Partikel zu kennen. Oder im Fall von Pulvern als Ausgangsmaterial dieses regelmässig zu charakterisieren, um eine gute Prozessstabilität zu gewährleisten.

Wir bieten folgende Partikelanalysen an:

  • Analyse von Partikeln auf Bauteilen mittels Rasterelektronenmikroskop (REM).
    Bsp.: Quantifizierung von Strahlmittelrückstände + Elementidientifikation mittels energiedispersiver Röntgenanalytik (EDX).
    Detektionsgrenzen: 50 nm für EDX, wenige Nanometer für REM
  • Gravimetrie: Gewicht der Partikel auf einem Filter 
    Detektionsgrenze: 0.1 mg resp. 3 mg gemäss VDA Band 19.1 (2015)
  • Partikelgrössenverteilung mittels Laserbeugung:
    Grössenbereich: von 17 nm (in Flüssigkeit) oder von 0.4 µm (trocken) bis 2’000 µm, unter der Annahme von kugelförmigen Partikeln. Dabei wird nur die Grössenverteilung bestimmt, nicht aber die absolute Menge von Partikeln.
    Norm: ISO 13320:2020
  • Partikelgrösse mittels Lichtabschattung:
    Detektionsgrenze: 0.5 µm, unter der Annahme von kugelförmigen Partikeln.
    Norm: ISO 21018-4:2019; USP 788
  • Mikroskopie: Automatisches Absuchen von Partikeln auf einem Filter und Unterscheiden von nicht-metallischen und metallischen Partikeln
    Detektionsgrenze: 10 µm
    Normen: ISO 16232:2018, VDA Band 19.1 (2015) und Band 19.2 (2010)
  • Rasterelektronenmikroskop (REM): Automatische Identifikation und chemische Analyse von Partikeln auf einer Probe à Grössenverteilung für verschiedene Materialklassen
    Detektionsgrenze: 50 nm (und je nach Porengrösse des Filters)
    Norm: ASTM F1877-16
  • Organische Analyse von Partikeln auf einem Filter mittels Fourier-Transformations-Infrarotspektrometer (FT-IR) in Kombination mit optischer Mikroskopie
    Detektionsgrenze: 5 µm
    Normen: ASTM E1252−98:2013, ASTM E573-01:2021
Norm(en): VDA Band 19.1 (2015) und Band 19.2 (2010) / ISO 13320:2020 / ISO 21018-4:2019 / USP 788 / ISO 16232:2018 / ASTM F1877-16 / ASTM E1252−98:2013 / ASTM E573-01:2021
Newsletter:  
Equipment: Beckman Coulter LS 13320 (Laserbeugung) / Jomesa HFD4 (automatisierte Lichtmikroskopie, getrocknete Filter oder Glasplatte) / REM (Rasterelektronenmikroskopie, getrocknete Filter)

 

 

Bestimmung der spezifischen Oberfläche von Pulvern und porösen Festkörpern

Beschreibung: Bestimmung der spezifischen Oberfläche von Feststoffen nach der BET-Methode (Brunauer, Emmet und Teller) basierend auf der Gasadsorption. Als Standardmethode wird dabei die Stickstoffadsorption bei der Tempera-tur von Flüssigstickstoff angewendet.
Norm(en): nicht akkreditiert
Newsletter:  
Equipment: Tristar Plus 3030, Micromeritics

Ansprechpartner:  Pascal Michel +41 32 644-2042

 

 

Prüfung der Technischen Sauberkeit nach VDA 19 Teil 1 / ISO 16232

Beschreibung: Durchführen von normgerechten Bauteilsauberkeitsanalysen hinsichtlich Partikeln (Restschmutz). Erstellung von Sauberkeitsprüfprozeduren (Abklingmessungen, Blindwerte, Anzahl Messungen, Spülparameter, Filter). Gravimetrie, Bestimmung der Gesamtmasse aller auf dem Bauteil befindlichen Partikel (Restschmutz). Lichtoptische Analyse, Zählung und Vermessung sowie Einteilung der Partikel in metallisch, nichtmetallisch und Fasern. Weitergehende Analysen, Materialbestimmung von Partikeln und Partikelanalysen mittels REM EDX, oder FT-IR Analyse..
Norm(en): VDA 19 Teil 1 / ISO 16232
Newsletter:  
Equipment:

Edelstahl-Vakuumfiltrationseinheit Sartorius / Waschkabinett Hydac CTU 1040, Analysenwaage Mettler AX 205 / Filteranalysesystem Jomesa HFD4. Rasterelektronenmikroskop Zeiss Sigma 300 VP mit EDX Analyse (AZtec Oxford mit UltimMax 40 Detektor. FT-IR Mikroskop Bruker Lumos.

Ansprechpartner:  Dieter Streit +41 32 644-2021

 

 

Partikelgrössenanalyse (Laserbeugung, Automatisierte Mikroskopie)

Beschreibung: Die Partikelgrössenanalyse dient der Bestimmung von Partikelgrössenverteilungen von Granulaten, Pulvern und Suspensionen. Die Grössenverteilung von Abriebpartikeln aus Verschleissversuchen kann ebenfalls untersucht werden. Als Messverfahren stehen Laserbeugung und automatisierte Mikroskopie zur Verfügung. Bei der Laserbeugung entstehen partikelgrössenabhängige Beugungsmuster, die durch Detektoren erfasst und in eine Partikelgrössenverteilung umgerechnet werden. Bei der automatisierten Mikroskopie kommen optische oder elektronenstrahlbasierte Mikroskope zum Einsatz. Eine statistisch ausreichende Anzahl Partikel wird auf einer flachen Unterlage automatisch vermessen (z.B. ein getrockneter Filter). Die Verteilung von Länge, Breite und/oder äquivalentem Kreisdurchmesser kann für die Grössenanalyse der Partikel verwendet werden.
Norm(en): ISO 13320
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  • Partikelanalytik mittels statischer Lichtstreuung (NL-17)
Equipment: Beckman Coulter LS 13320 (Laserbeugung) / Jomesa HFD4 (automatisierte Lichtmikroskopie, getrocknete Filter oder Glasplatte) / REM (Rasterelektronenmikroskopie, getrocknete Filter) / FTIR Mikroskopie

 

 

Restfeuchtegehalt

Beschreibung: Bestimmung des Restfeuchtegehaltes über den Gewichtsverlust nach intensiver Trocknung gemäss Ph. Eur. Monographie 2.2.32. «Loss on drying» 01/2008:20232.
Norm(en): Ph. Eur. 6 Monography 2.2.32. «Loss on drying» 01/2008:20232
Newsletter:  
Equipment: Trockenschrank Memmert Typ ULP 500 und UFP 500 / Präzisionswaage Mettler Toledo AX205

Ansprechpartner:  Pascal Michel +41 32 644-2042

 

 

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