Oberflächenanalytik

In der RMS Foundation können wir Ihnen folgenden Dienstleistungen im Bereich Oberflächenanalytik anbieten:

Dienstleistungen im Bereich Oberflächenanalytik (Generell)

Mikroskopie:

Spezialanwendung:

  • Rissprüfung: Farbeindringprüfung zur Visualisierung von Rissen oder Überlappungen.
Chemische Oberflächenanalytik:
  • Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS): Chemische Analyse der obersten 10 nm. Besonders geeignet für anorganische Materialien und Bestimmung der Oxidationszustände.
  • REM mit energiedispersiver Röntgenanalytik (EDX): Chemische Analyse von kleinen Bereichen wie Partikeln mit einer Informationstiefe von ca. 1 µm.
  • Infrarotspektroskopie (FT-IR): Organische Analyse von Schichten oder Partikeln auf der Oberfläche.

Keine chemische Analyse, aber sehr sensitiv in Bezug auf die chemische Zusammensetzung:

  • Kontaktwinkel: zur Messung der Oberflächenenergie und zur Beurteilung, ob eine Oberfläche hydrophil oder hydrophob ist.
Sauberkeit der Oberfläche:

 

 

Topographie und Rauheitsmessung

Beschreibung: Kontaktlose Messung der Topographie mittels Interferometrie, Konfokalmikroskopie und Fokusvariation. Aus der Topographie können zum Beispiel die Rauheit anhand von extrahierten Profilen oder auch die Flächenrauheit bestimmt werden.
Norm(en): ISO 4287 / ISO 4288 / ISO 13565-2
Newsletter:  
Equipment: S neox von Sensofar

 

 

Oberflächenverunreinigungen

Beschreibung: Elementanalysen von Oberflächenverunreinigungen
Norm(en): -
Newsletter:  
Equipment: Röntgen-Photoelektronenspektrometer (XPS), FTIR, TOC, TIC, TN

 

 

Dokumentation von Oberflächen + Bruchflächen mittels Elektronenmikroskopie

Beschreibung: Dokumentation von Oberflächen und Bruchflächen an organischen und anorganischen Proben und Bauteilen mittels Rasterelek­tro­nenmikroskopie (REM) zur Bestimmung der Oberflächentopographie und -struktur.
Norm(en): -
Newsletter:  
Equipment: Rasterelektronenmikroskop Zeiss Sigma 300 VP mit EDX Analyse (AZtec Oxford mit UltimMax 40 Detektor) mit Sekundär- und Rückstreuelektronendetektor, Alicona MEX Software (3D Bilder, Rauheitsmessungen)

 

 

Makro- und mikroskopische Dokumentation

Beschreibung: Makro- und mikroskopische Dokumentation von Proben aller Art
Norm(en): -
Newsletter:  
Equipment: Inverses Lichtmikroskop Leica DMI5000 M, Stereomikroskop Leica M205A, Canon E0S 700D

 

 

Messung des Kontaktwinkels

Beschreibung: Die Bestimmung des Kontaktwinkels auf einer Probe erlaubt eine schnelle Charakterisierung der Oberfläche: Ist die Oberfläche hydrophob oder hydrophil? Ist die Probe verunreinigt? War ein Beschichtungsprozess erfolgreich? Anhand von zwei verschiedenen Testflüssigkeiten kann auch die effektive Oberflächenenergie berechnet werden.
Norm(en): ASTM D7334 / DIN 55660-2
Newsletter:  
Equipment: Surftens universal von OEG GmbH

 

 

Prüfung der Technischen Sauberkeit nach VDA 19 Teil 1 / ISO 16232

Beschreibung: Durchführen von normgerechten Bauteilsauberkeitsanalysen hinsichtlich Partikeln (Restschmutz). Erstellung von Sauberkeitsprüfprozeduren (Abklingmessungen, Blindwerte, Anzahl Messungen, Spülparameter, Filter). Gravimetrie, Bestimmung der Gesamtmasse aller auf dem Bauteil befindlichen Partikel (Restschmutz). Lichtoptische Analyse, Zählung und Vermessung sowie Einteilung der Partikel in metallisch, nichtmetallisch und Fasern. Weitergehende Analysen, Materialbestimmung von Partikeln und Partikelanalysen mittels REM / EDX oder FT-IR Analyse.
Norm(en): VDA 19 Teil 1 / ISO 16232
Newsletter:
Equipment:

Ansprechpartner:  Dieter Streit +41 32 644-2021

 

 

Rissprüfung / PT-Prüfung

Beschreibung: Eindringprüfung zum Auffinden von Fehlern die zur Prüfoberfläche hin offen sind (z. B. Rissen, Überlappungen, Falten und Poren) an allen Werkstoffen, sofern der Werkstoff nicht von den Prüfmitteln angegriffen wird und nicht extrem porös ist.
Norm(en): DIN EN ISO 3452-1 / ASTM E 165 / ASTM E 1417
Newsletter:  
Equipment: rotes Farbeindringmittel oder fluoreszierendes Eindringmittel, Zwischenreiniger auf Lösemittelbasis, Nassentwickler auf Lösemittelbasis

 

 

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