Oberflächenanalytik

• Mikroskopie: Zur Dokumentation von Oberflächen und zum Ausmessen von Bereichen.
• Topographie & Rauheit: Kontaktlose 3D-Messung zur Bestimmung von Formen und Rauheitswerten.
• Rasterelektronenmikroskop (REM): Erhöhte Auflösung zur Untersuchung von Bruchflächen oder feinen Strukturen auf Oberflächen.

Spezialanwendung:

• Rissprüfung: Farbeindringprüfung zur Visualisierung von Rissen oder Überlappungen.

• Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS): Chemische Analyse der obersten 10 nm. Besonders geeignet für anorganische Materialien und Bestimmung der Oxidationszustände.
• REM mit energiedispersiver Röntgenanalytik (EDX): Chemische Analyse von kleinen Bereichen wie Partikeln mit einer Informationstiefe von ca. 1 µm.
• Infrarotspektroskopie (FT-IR): Organische Analyse von Schichten oder Partikeln auf der Oberfläche.

Keine chemische Analyse, aber sehr sensitiv in Bezug auf die chemische Zusammensetzung:

• Kontaktwinkel: zur Messung der Oberflächenenergie und zur Beurteilung, ob eine Oberfläche hydrophil oder hydrophob ist.

• Technische Sauberkeit: siehe Partikel
• Chemisch (in-situ): siehe XPS
• Chemisch (Extraktion): siehe Biokompatibilität
• Biologisch: siehe Biokompatibilität