Oberflächenanalytik

Bitte beachten Sie auch folgende Dienstleistungen aus anderen Kategorien:

Mikroskopie:	Mikroskopie: Zur Dokumentation von Oberflächen und zum Ausmessen von Bereichen. Topographie & Rauheit: Kontaktlose 3D-Messung zur Bestimmung von Formen und Rauheitswerten. Rasterelektronenmikroskop (REM): Erhöhte Auflösung zur Untersuchung von Bruchflächen oder feinen Strukturen auf Oberflächen. Spezialanwendung: Rissprüfung: Farbeindringprüfung zur Visualisierung von Rissen oder Überlappungen.
Chemische Oberflächenanalytik:	Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS): Chemische Analyse der obersten 10 nm. Besonders geeignet für anorganische Materialien und Bestimmung der Oxidationszustände. REM mit energiedispersiver Röntgenanalytik (EDX): Chemische Analyse von kleinen Bereichen wie Partikeln mit einer Informationstiefe von ca. 1 µm. Infrarotspektroskopie (FT-IR): Organische Analyse von Schichten oder Partikeln auf der Oberfläche. Keine chemische Analyse, aber sehr sensitiv in Bezug auf die chemische Zusammensetzung: Kontaktwinkel: zur Messung der Oberflächenenergie und zur Beurteilung, ob eine Oberfläche hydrophil oder hydrophob ist.
Sauberkeit der Oberfläche:	Technische Sauberkeit: siehe Partikel Chemisch (in-situ): siehe XPS Chemisch (Extraktion): siehe Biokompatibilität Biologisch: siehe Biokompatibilität

Beschreibung:	Eindringprüfung zum Auffinden von Fehlern die zur Prüfoberfläche hin offen sind (z. B. Rissen, Überlappungen, Falten und Poren) an allen Werkstoffen, sofern der Werkstoff nicht von den Prüfmitteln angegriffen wird und nicht extrem porös ist.
Norm(en):	DIN EN ISO 3452-1 ASTM E 165 ASTM E 1417
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Equipment:	rotes Farbeindringmittel oder fluoreszierendes Eindringmittel / Zwischenreiniger auf Lösemittelbasis / Nassentwickler auf Lösemittelbasis