Oberflächenanalytik

Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)

Mit der XPS-Analyse kann die chemische Zusammensetzung an der Oberfläche (oberste 5 – 10 nm) von Festkörpern quantitativ bestimmt werden.

Methode

Zerstörungsfreie Detektion aller Elemente (ausser Wasserstoff und Helium) und Bestimmung der Oxidationszustände der vorhandenen Elemente.

Anwendung

Analyse der Sauberkeit resp. Kontaminationen, Flecken, Verfärbungen, Oberflächenmodifikationen, Beschichtungen etc.

Normenbezug

  • ASTM E572: Standard Test Method for Analysis of Stainless and Alloy Steels by X-Ray Fluorescence Specrometry
  • ASTM E539: Standard Test Method for Analysis of Titanium Alloys by X-Ray Fluorescence Spectrometry
  • ASTM E1085: Standard Test Method for Analysis of Low Allow Steels by X-Ray Fluorescence Spectrometry
  • DIN 51418-2: Röntgenemissions- und Röntgenfluoreszenzanalysen

 

Lesen Sie mehr über XPS auf unserem Flyer oder über Oberflächenanalytik in unserem Newsletter Nr. 4

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