Oberflächenanalytik
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)
Mit der XPS-Analyse kann die chemische Zusammensetzung an der Oberfläche (oberste 5 – 10 nm) von Festkörpern quantitativ bestimmt werden.

Methode
Zerstörungsfreie Detektion aller Elemente (ausser Wasserstoff und Helium) und Bestimmung der Oxidationszustände der vorhandenen Elemente.
Anwendung
Analyse der Sauberkeit resp. Kontaminationen, Flecken, Verfärbungen, Oberflächenmodifikationen, Beschichtungen etc.
Normenbezug
- ASTM E572: Standard Test Method for Analysis of Stainless and Alloy Steels by X-Ray Fluorescence Specrometry
- ASTM E539: Standard Test Method for Analysis of Titanium Alloys by X-Ray Fluorescence Spectrometry
- ASTM E1085: Standard Test Method for Analysis of Low Allow Steels by X-Ray Fluorescence Spectrometry
- DIN 51418-2: Röntgenemissions- und Röntgenfluoreszenzanalysen
Ansprechpartner: Roman Heuberger +41 32 644-2022 E-Mail
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