Rasterelektronenmikroskopie (REM) Übersicht Oberflächenanalytik

System: Zeiss Sigma 300 VP + UltimMax 40 EDX Detektor

Dokumentation von Oberflächen und Bruchflächen an organischen und anorganischen Proben und Bauteilen mittels Rasterelektronenmikroskopie (REM) zur Bestimmung der Oberflächentopographie und -struktur.

Nützliche Hinweise:

Geeignete Proben: Festkörper
Probenvorgaben:
  • Probengrösse (B x T x H): 100 x 100 x 50 mm
  • in speziellen Fällen auch grössere Proben möglich
  • Lieferung in sauberer Aluminiumfolie, sauberes Gefäss (kein Tesafilm!)
Messbereich/Optionen:
  • Werkstoffe: Polymere, Metalle, Keramik, Mineralien
  • Vergrösserung: 5x bis 30’000x (theoretisch bis 300’000x)
  • Topographien, Verunreinigungen, Einschlüsse
  • Bruchflächenanalysen
  • Phasenidentifikationen
  • VP Mode (reduziertes Vakuum) Untersuchung nichtleitender Proben ohne Sputterung resp. Bedampfen

 

Anwendung(en)

  • Werkstoffe: Polymere, Metalle, Keramik, Mineralien
  • Vergrösserung: 5x bis 30’000x (theoretisch bis 300’000x)
  • Topographien, Verunreinigungen, Einschlüsse
  • Bruchflächenanalysen
  • Phasenidentifikationen
  • VP Mode (reduziertes Vakuum) Untersuchung nichtleitender Proben ohne Sputterung resp.

Normenbezug

Ansprechpartner:  Fabrizio Bigolin +41 32 644-2023

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