Die Schadensanalyse dient der Aufklärung der Schadensursache und der Prävention von künftigen Schäden. Die gewonnenen Erkenntnisse können zur Gesamtbewertung der Risiken als Bestandteil einer technischen Dokumentation herangezogen werden und helfen, einen hohen Produktstandard zu dokumentieren.

In der RMS Foundation steht ein FT-IR Mikroskop zur Identifikation organischer Materialien zur Verfügung. Es erlaubt die Untersuchung von kleinsten Partikeln und Fasern (bis min. 30 μm) und deren Identifikation anhand einer Spektrenbibliothek mit mehr als 25'000 Referenzspektren.

Der RMS-Bericht 2018, der die Aktivitäten der Jahre 2016 und 2017 beinhaltet, ist publiziert