Mikroskopie
In der RMS Foundation stehen Ihnen die folgenden mikroskopische Methoden zur Verfügung. Alle Prüfleistungen sind nach ISO/IEC 17025 akkreditiert.
Lichtmikroskopie, Stereomikroskopie, Makrodokumentation
Makro- und mikroskopische Dokumentation von Proben aller Art.
Equipment: Inverses Lichtmikroskop Leica DMI5000 M / Stereomikroskop Leica M205A / Canon E0S 700D
Ansprechpartner: Fabrizio Bigolin+41 32 644-2023fabrizio.bigolin@rms-foundation.ch
Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Dokumentation von Oberflächen und Bruchflächen von organischen und anorganischen Proben und Bauteilen mittels Rasterelektronenmikroskopie (REM) zur Bestimmung der Oberflächentopographie und -struktur.
Equipment: Zeiss EVO MA25 mit Sekundär- und Rückstreuelektronendetektor / Alicona MEX Software (3D Bilder, Rauheitsmessungen)
Ansprechpartner: Fabrizio Bigolin+41 32 644-2023fabrizio.bigolin@rms-foundation.ch
Lesen Sie mehr zum Thema REM in unserem Newsletter Nr. 6 und Newsletter Nr. 7
Topographie- & Rauheitsmessung
Kontaktlose Messung der Topographie mittels Interferometrie, Konfokalmikroskopie und Fokusvariation. Aus der Topographie können zum Beispiel die Rauheit anhand von extrahierten Profilen oder auch die Flächenrauheit bestimmt werden.
Equipment: S neox von Sensofar
Ansprechpartner: Roman Heuberger+41 32 644-2022roman.heuberger@rms-foundation.ch
Lesen Sie mehr zum Thema Rauheitsmessung in unserem Newsletter Nr. 20