Mikroskopie

In der RMS Foundation stehen Ihnen die folgenden mikroskopische Methoden zur Verfügung. Alle Prüfleistungen sind nach ISO/IEC 17025 akkreditiert.

Lichtmikroskopie, Stereomikroskopie, Makrodokumentation

Makro- und mikroskopische Dokumentation von Proben aller Art.

Equipment: Inverses Lichtmikroskop Leica DMI5000 M / Stereomikroskop Leica M205A / Canon E0S 700D

Ansprechpartner: Fabrizio Bigolin+41 32 644-2023

Rasterelektronenmikroskopie (REM)

Dokumentation von Oberflächen und Bruchflächen von organischen und anorganischen Proben und Bauteilen mittels Rasterelek­tro­nenmikroskopie (REM) zur Bestimmung der Oberflächentopographie und -struktur.

Equipment: Zeiss EVO MA25 mit Sekundär- und Rückstreuelektronendetektor / Alicona MEX Software (3D Bilder, Rauheitsmessungen)

Ansprechpartner: Fabrizio Bigolin+41 32 644-2023

Lesen Sie mehr zum Thema REM in unserem Newsletter Nr. 6 und Newsletter Nr. 7

Topographie und Rauheitsmessung

Kontaktlose Messung der Topographie mittels Interferometrie, Konfokalmikroskopie und Fokusvariation. Aus der Topographie können zum Beispiel die Rauheit anhand von extrahierten Profilen oder auch die Flächenrauheit bestimmt werden.

Equipment: S neox von Sensofar

Ansprechpartner: Roman Heuberger+41 32 644-2022

Lesen Sie mehr zum Thema Rauheitsmessung in unserem Newsletter Nr. 20

to top