Mikroskopie
In der RMS Foundation stehen Ihnen die folgenden mikroskopische Methoden zur Verfügung. Alle Prüfleistungen sind nach ISO/IEC 17025 akkreditiert.
Lichtmikroskopie, Stereomikroskopie, Makrodokumentation
Makro- und mikroskopische Dokumentation von Proben aller Art.
Equipment: Inverses Lichtmikroskop Leica DMI5000 M / Stereomikroskop Leica M205A / Canon E0S 700D
Ansprechpartner: Fabrizio Bigolin+41 32 644-2023E-Mail
Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Dokumentation von Oberflächen und Bruchflächen von organischen und anorganischen Proben und Bauteilen mittels Rasterelektronenmikroskopie (REM) zur Bestimmung der Oberflächentopographie und -struktur.
Equipment: Zeiss Sigma 300 VP mit Sekundär- und Rückstreuelektronendetektor / Alicona MEX Software (3D Bilder, Rauheitsmessungen)
Ansprechpartner: Fabrizio Bigolin+41 32 644-2023E-Mail
Lesen Sie mehr zum Thema REM in unserem Newsletter Nr. 6 und Newsletter Nr. 7
Topographie und Rauheitsmessung
Kontaktlose Messung der Topographie mittels Interferometrie, Konfokalmikroskopie und Fokusvariation. Aus der Topographie können zum Beispiel die Rauheit anhand von extrahierten Profilen oder auch die Flächenrauheit bestimmt werden.
Equipment: S neox von Sensofar
Ansprechpartner: Roman Heuberger+41 32 644-2022E-Mail
Lesen Sie mehr zum Thema Rauheitsmessung in unserem Newsletter Nr. 20