In der RMS Foundation stehen Ihnen die folgenden Mikroskopischen Untersuchungen zur Verfügung. Die mit Stern (*) gekennzeichneten Leistungen sind nach ISO/IEC 17025 akkreditiert.
Mikroskopische Untersuchung und fotografische Dokumentation von Schliffproben und ebenen, anorganischen und organischen Flächen und Objekten.
Geräte: Inverse Lichtmikroskope Leica DMI5000 M und Nikon «Epiphot»
Kontaktperson: Fabrizio Bigolin, Fabrizio.Bigolin(at)rms-foundation.ch, +41 (0)32 644 12 05
Untersuchung nichttransparenter als auch transparenter Materialien mittels Auflicht- resp. Durchlichtmikroskopie zur Ermittlung physikalischer bzw. optischer Eigenschaften von vorwiegend anisotropen Objekten.
Geräte: Inverse Lichtmikroskope Leica DMI5000 M und Nikon «Epiphot»
Kontaktperson: Fabrizio Bigolin, Fabrizio.Bigolin(at)rms-foundation.ch, +41 (0)32 644 12 05
Dokumentation von Oberflächen und Bruchflächen von organischen und anorganischen Testkörper und Bauteilproben mittels Rasterelektronenmikroskopie (REM) zur Bestimmung der Oberflächentopographie und -struktur.
Gerät: Zeiss EVO MA25 mit Sekundär- und Rückstreuelektronendetektor
Kontaktperson: Fabrizio Bigolin, Fabrizio.Bigolin(at)rms-foundation.ch, +41 (0)32 644 12 05
Lesen Sie mehr zum Thema REM in unserem Newsletter Nr. 6 und Newsletter Nr. 7
Stereooptische, makro- und mikroskopische Untersuchung und fotografische Dokumentation von Oberflächen und Objekten aller Art in Auflicht und Durchlicht.
Gerät: Stereomikroskop Leica MZ12
Kontaktperson: Fabrizio Bigolin, Fabrizio.Bigolin(at)rms-foundation.ch, +41 (0)32 644 12 05