In der RMS Foundation stehen Ihnen die folgenden Mikroskopischen Untersuchungen zur Verfügung. Die mit Stern (*) gekennzeichneten Leistungen sind nach ISO/IEC 17025 akkreditiert.
Lichtmikroskopie*
Mikroskopische Untersuchung und fotografische Dokumentation von Schliffproben und ebenen, anorganischen und organischen Flächen und Objekten.
Geräte: Inverse Lichtmikroskope Leica DMI5000 M und Nikon «Epiphot»
Polarisationsmikroskopie*
Untersuchung nichttransparenter als auch transparenter Materialien mittels Auflicht- resp. Durchlichtmikroskopie zur Ermittlung physikalischer bzw. optischer Eigenschaften von vorwiegend anisotropen Objekten.
Geräte: Inverse Lichtmikroskope Leica DMI5000 M und Nikon «Epiphot»
Rasterelektronenmikroskopie REM
Dokumentation von Oberflächen und Bruchflächen von organischen und anorganischen Testkörper und Bauteilproben mittels Rasterelektronenmikroskopie (REM) zur Bestimmung der Oberflächentopographie und -struktur.
Gerät: Zeiss EVO MA25 mit Sekundär- und Rückstreuelektronendetektor
Stereomikroskopie*
Stereooptische, makro- und mikroskopische Untersuchung und fotografische Dokumentation von Oberflächen und Objekten aller Art in Auflicht und Durchlicht.
Gerät: Stereomikroskop Leica MZ12