In der RMS Foundation stehen Ihnen die folgenden Methoden der Materialographie an metallischen, keramischen oder polymeren Werkstoffen zur Verfügung. Die mit Stern (*) gekennzeichneten Leistungen sind nach ISO/IEC 17025 akkreditiert.

Probenpräparation für materialografische Untersuchungen*

Aufbereitung von Proben für materialografische Untersuchungen beinhaltend mehrere der folgenden, wahlweise durchzuführenden Arbeitsschritte wie Trennen, Einbetten, Schleifen, Polieren und Ätzen.

Geräte: Präzisionstrennmaschinen Struers «Labotom» und «Accutom-5» / Einbettpresse Struers «Pronto Press-20» / Schleif- und Poliergeräte Struers «Roto Force-4» und «Tegra Force-5»

Kontaktperson: Myriam Gergs, Myriam.Gergs(at)rms-foundation.ch, +41 (0)32 644 16 93

Bestimmung der Korngrösse und des Volumenanteils bei mehrphasigen Gefügen*

Bestimmung der Korngrössenkennzahl und der Korngrösse basierend auf Standardmethoden sowie des Volumenanteils bei mehrphasigen Gefügen nach dem Punktzählverfahren an metallischen und keramischen Werkstoffen mit Bilddokumentation in Papierform (s/w / farbig) und/oder elektronisch.

Geräte: Lichtmikroskope Leica DMI5000 M und Jenophile «ProgRes C14plus»

Kontaktperson: Myriam Gergs, Myriam.Gergs(at)rms-foundation.ch, +41 (0)32 644 16 93

Bestimmung von nichtmetallischen Einschlüssen bei Metallen*

Charakterisierung und Bestimmung von nichtmetallischen Einschlüssen an ungeätzten Schliffen metallischer Werkstoffe mit Bilddokumentation in Papierform (s/w / farbig) und/oder elektronisch.

Geräte: Lichtmikroskope Leica DMI5000 M und Jenophile «ProgRes C14plus»

Kontaktperson: Myriam Gergs, Myriam.Gergs(at)rms-foundation.ch, +41 (0)32 644 16 93

Lesen Sie mehr zum Thema "Nichtmetallische Einschlüsse" in unserem Newsletter Nr. 13

Bestimmung des Gehaltes an ausgeschiedenen Phasen*

Abschätzung des Gehaltes oder Ermittlung der Prozentanteile von ausgeschiedenen Phasen wie Delta-Ferrit, Sigma-Phase und Ferrit-Zeilen mittels Vergleichsrichtreihen mit Bilddokumentation in Papierform (s/w / farbig) und/oder elektronisch.

Geräte: Lichtmikroskope Leica DMI5000 M und Jenophile «ProgRes C14plus»

Kontaktperson: Myriam Gergs, Myriam.Gergs(at)rms-foundation.ch, +41 (0)32 644 16 93

Schichtdickenmessung*

Messung der örtlichen Dicke von Metall- und Oxidschichten durch Untersuchung von Querschnittsflächen mittels eines Lichtmikroskops mit Bilddokumentation in Papierform (s/w / farbig) und/oder elektronisch.

Geräte: Lichtmikroskope Leica DMI5000 M und Jenophile «ProgRes C14plus»

Kontaktperson: Myriam Gergs, Myriam.Gergs(at)rms-foundation.ch, +41 (0)32 644 16 93

Plastografische Dünnschnitttechnik an Polymerwerkstoffen*

Analyse von Dünnschnitten (ca. 10 µm dicke Mikrotomschnitte) mit polarisiertem Licht im Durchlichtmikroskop zum Nachweis von Sphärolithen in teilkristallinen Thermoplasten und zur Charakterisierung eingefrorener Orientierungen in teilkristallinen Thermoplasten. Es können nur Strukturen beobachtet werden, die eine Änderung der Polarisationsrichtung des Lichtes bewirken.

Geräte: Rotationsmikrotom Leica RM 2165 / Stereomikroskop Leica MZ12 mit Durchlichteinheit

Kontaktperson: Fabrizio Bigolin, Fabrizio.Bigolin(at)rms-foundation.ch, +41 (0)32 644 12 05