Oberflächenanalytik

Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)

Mit einer XPS-Analyse kann die chemische Zusammensetzung an der Oberfläche (oberste 5 – 10 nm) von Festkörpern quantitativ bestimmt werden. Zerstörungsfreie Detektion aller Elemente (ausser Wasserstoff und Helium) und Bestimmung der Oxidationszustände der vorhandenen Elemente. Anwendung: Analyse der Sauberkeit resp. Kontaminationen, Flecken, Verfärbungen, Oberflächenmodifikationen, Beschichtungen etc.

Lesen Sie mehr über XPS auf unserem Flyer oder über Oberflächenanalytik in unserem Newsletter Nr. 4

Messung des Kontaktwinkels

Die Bestimmung des Kontaktwinkels auf einer Probe erlaubt eine schnelle Charakterisierung der Oberfläche: Ist die Oberfläche hydrophob oder hydrophil? Ist die Probe verunreinigt? War ein Beschichtungsprozess erfolgreich? Anhand von zwei verschiedenen Testflüssigkeiten kann auch die effektive Oberflächenenergie berechnet werden.

Lesen Sie mehr zum Thema Kontaktwinkelmessung in unserem Newsletter Nr. 10